對干式電解拋光工藝的表征

在GPAINNOVA，S neox Five Axis專門用于量化拋光工藝的質(zhì)量，并說明使用DLyte拋光后樣品粗糙度降低的情況

GPAINNOVA正在對制造團隊得以生產(chǎn)高質(zhì)量金屬表面的方法進行改造。DLyte系列機器基于Drylyte**技術(shù)：這是第一個干式電解拋光工藝，為業(yè)內(nèi)的金屬合金表面修整提供了解決方案。應(yīng)用范圍從美觀部件打磨、倒圓、去毛刺到表面修勻和高光澤拋光。Sensofar的S neox Five Axis使我們能夠采用現(xiàn)有表面修整解決方案達到最高質(zhì)量。

在GPAINNOVA，Sensofar S neox Five Axis專門用于量化拋光工藝，并說明使用DLyte拋光后樣品粗糙度降低的情況。樣品可能各有不同，下至非常粗糙的增材制造零件，上至鏡面表面，而Sensofar系統(tǒng)包括多焦面疊加、共聚焦和干涉測量技術(shù)等多種功能，因此所有樣品都可以使用Sensofar系統(tǒng)進行測量。
下文所述為DLyte功能的一個簡短示例。可以看到DLyte拋光前后由CoCr制成的股骨組件。

在Sensofar系統(tǒng)之前，我們使用接觸式觸針輪廓儀，獲取的參數(shù)只有輪廓參數(shù)（Ra、Rz、Rq等）。盡管Ra是常用的參數(shù)，但它并未提供有關(guān)表面空間結(jié)構(gòu)的任何信息。但是從現(xiàn)在起，借助Sensofar計量技術(shù)，可以測量Sa（Ra向表面的延伸）等表面參數(shù)。Sa的測量考慮樣品表面粗糙度，可以比Ra更好地表征表面。測量某個區(qū)域的主要優(yōu)點是有可能掃描更大的區(qū)域，并生成適合作為樣品概觀的數(shù)毫米大小的表面，從而獲得更可靠的數(shù)值。3D區(qū)域表面參數(shù)按照ISO 25178標準計算（對表面紋理基礎(chǔ)的重新定義），包含以下參數(shù)：Sa、Sq、Ssk、Sku、Sp、Sv和Sz。

通過干涉測量技術(shù)，采用50x DI物鏡獲得以下測量結(jié)果。干涉測量技術(shù)使我們能夠測量和上文所述股骨組件樣品一樣的鏡面表面。

S neox Five Axis不僅可用于表征拋光工藝后表面粗糙度降低的情況，還可用于證明借助Drylyte技術(shù)保持了拋光零件的公差。下文所示為加工零件的外形和形狀測量示例，該案例使用了多焦面疊加技術(shù)。

可以看出，由于采用干涉測量法拍攝黑白圖像和彩色地圖圖像，采用DLyte工藝之后，用低于0.05 µm的Sa參數(shù)定量的樣品表面粗糙度降低。

此外，通過使用Ai多焦面疊加技術(shù)的互補形狀測量，證明了形狀得到保留。S neox Five Axis是一種多功能計量工具，滿足我們的測量需求，從現(xiàn)在起將成為DLyte實驗室的得力工具。