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布魯克白光干涉光學(xué)輪廓儀落地式全能選手 ContourX - 1000 采用落地式設(shè)計，機(jī)身穩(wěn)固。其集成了 Bruker 傾斜 / 俯仰光學(xué)頭，雙光源、自動化的物鏡轉(zhuǎn)盤和樣品臺，以及可選配的晶圓卡盤 。這種創(chuàng)新設(shè)計為各種復(fù)雜應(yīng)用提供了極大便利，對于有難度的表面和深溝槽結(jié)構(gòu)也能輕松應(yīng)對。操作界面配備簡潔且有引導(dǎo)性的 VisionXpress™程序和模式，降低了操作人員的使用難度，即使經(jīng)驗不足也能快速

布魯克白光干涉儀：輪廓測量新選擇 在材料微觀特性探究、元件質(zhì)量把控的科研及工業(yè)場景里，表面輪廓測量的精度與效率，直接影響著研究進(jìn)展與產(chǎn)品品質(zhì)。布魯克白光干涉光學(xué)輪廓儀，以其精巧設(shè)計與實用功能，成為眾多專業(yè)人士信賴的得力工具。下面為你介紹兩款該系列的產(chǎn)品。

Sensofar白光干涉儀：高分辨表面形貌測量 Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學(xué)測量技術(shù)，適用于微納米級表面形貌分析，可滿足半導(dǎo)體、精密制造、材料科學(xué)等領(lǐng)域的高精度檢測需求。

Sensofar白光干涉儀高分辨表面分析解決方案 Sensofar白光干涉儀采用優(yōu)良的光學(xué)干涉技術(shù)，為微納米級表面形貌測量提供可靠解決方案，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、精密制造和材料科學(xué)研究領(lǐng)域。

Sensofar白光干涉儀：多維表面測量解決方案 Sensofar白光干涉儀是一款功能全面、性能穩(wěn)定的表面測量設(shè)備，適用于多種高精度測量需求，是科研和工業(yè)應(yīng)用中的理想選擇。

Sensofar白光干涉儀解鎖微觀形貌“多面手” 在科研與工業(yè)制造邁向精密化的當(dāng)下，微觀世界的精確測量愈發(fā)關(guān)鍵。Sensofar 白光干涉儀，憑借前沿技術(shù)與精心設(shè)計，成為諸多領(lǐng)域探索微觀奧秘、把控產(chǎn)品質(zhì)量的得力伙伴。