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光鏡及電鏡制樣設(shè)備
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PicoFemto透射電鏡原位拉伸樣品桿,可在室溫條件下對材料施加拉力,結(jié)合透射電鏡原位觀察材料結(jié)構(gòu)的變化。
PicoFemto透射電鏡原位MEMS加熱/電學(xué)測量系統(tǒng),透射電子顯微鏡是提供在較高時(shí)間分辨率下得到原子級空間分辨率的實(shí)驗(yàn)手段。
PicoFemto透射電鏡原位MEMS低溫電學(xué)測量系統(tǒng),是在標(biāo)配MEMS芯片樣品桿上集成低溫控制模塊,實(shí)現(xiàn)低溫電學(xué)測量或全溫區(qū)測量功能。
PicoFemto透射電鏡原位MEMS液體電化學(xué)測量采用全新的O圈輔助密封設(shè)計(jì),更易封裝液體。
PicoFemto透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統(tǒng) PicoFemto透射電鏡原位M。EMS氣氛加熱測量系統(tǒng),在透射電子顯微鏡中制造氣氛及高溫環(huán)境,實(shí)現(xiàn)1 Bar & 800 ℃的端觀測條件
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM電學(xué)測量 PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM力電一體測量系統(tǒng) PicoFemto透射電子顯微鏡原位TEM-STM測量系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量
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