澤攸 ZEM15：高校教學(xué)顯微觀察優(yōu)選

產(chǎn)品簡介

澤攸 ZEM15：高校教學(xué)顯微觀察優(yōu)選
在高?；A(chǔ)教學(xué)與入門級科研實驗中，一款操作便捷、性能可靠的臺式掃描電子顯微鏡（SEM）能為學(xué)生與科研人員提供直觀的微觀觀察體驗。澤攸臺式掃描電子顯微鏡 ZEM15，憑借貼合教學(xué)場景的設(shè)計與實用性能，成為眾多高校實驗室的常用設(shè)備。

產(chǎn)品型號：

更新時間：2025-08-25

廠商性質(zhì)：代理商

訪問量：50

產(chǎn)品咨詢 17701039158

產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

臺式電鏡&臺階儀&原位分析

澤攸澤攸臺式掃描電鏡澤攸臺階儀澤攸探針臺及低溫系統(tǒng) 澤攸TEM原位方案(樣品桿) 澤攸SEM原位解決方案

查看全部產(chǎn)品

國產(chǎn)AI背后的“微觀守護者”：澤攸科技ZEM系列臺式掃描電鏡

掃描電鏡（SEM）：原理、應(yīng)用與樣品制備全解析

澤攸科技ZEM系列臺式掃描電鏡：賦能國產(chǎn)*端制造的“微觀之眼

詳細介紹在線留言

澤攸 ZEM15：高校教學(xué)顯微觀察優(yōu)選

在高?；A(chǔ)教學(xué)與入門級科研實驗中，一款操作便捷、性能可靠的臺式掃描電子顯微鏡（SEM）能為學(xué)生與科研人員提供直觀的微觀觀察體驗。澤攸臺式掃描電子顯微鏡 ZEM15，憑借貼合教學(xué)場景的設(shè)計與實用性能，成為眾多高校實驗室的常用設(shè)備。

產(chǎn)品細節(jié)

ZEM15 采用緊湊臺式設(shè)計，機身尺寸僅 650mm×500mm×800mm，重量約 50kg，無需專用實驗室，普通教室或小型實驗室即可輕松安置。操作界面采用觸控式設(shè)計，搭配圖文并茂的引導(dǎo)菜單，學(xué)生可通過簡單培訓(xùn)快速掌握基本操作，如樣品加載、放大倍數(shù)調(diào)節(jié)、圖像保存等。樣品室為側(cè)開式結(jié)構(gòu)，最大可容納直徑 50mm、高度 30mm 的樣品，配備簡易樣品臺，支持 X/Y 軸手動微調(diào)，方便定位觀察區(qū)域。設(shè)備正面設(shè)有高清顯示屏，可實時顯示微觀圖像，同時支持 HDMI 接口外接投影儀，便于教學(xué)演示時全班共同觀察。此外，機身側(cè)面預(yù)留 USB 接口，可直接導(dǎo)出圖像數(shù)據(jù)，無需復(fù)雜的數(shù)據(jù)分析軟件，滿足教學(xué)報告撰寫需求。

產(chǎn)品性能

ZEM15 的分辨率能滿足基礎(chǔ)微觀觀察需求，二次電子圖像分辨率可達 3.0nm（30kV），能清晰呈現(xiàn)金屬、半導(dǎo)體、生物樣品等的表面微觀結(jié)構(gòu)，如金屬晶粒、細胞形態(tài)、材料表面缺陷等。設(shè)備加速電壓范圍為 0.5 - 15kV，可根據(jù)樣品導(dǎo)電性選擇合適電壓，避免絕緣樣品充電問題；放大倍數(shù)覆蓋 20 - 100000 倍，從低倍宏觀觀察到高倍細節(jié)分析均可實現(xiàn)。在圖像采集方面，支持實時掃描與靜態(tài)拍照，圖像幀率可達 15 幀 / 秒，能動態(tài)觀察樣品表面特征，且多次采集的圖像重復(fù)性較好，適合教學(xué)中對比不同樣品的微觀差異。此外，設(shè)備具備自動聚焦與自動亮度 / 對比度調(diào)節(jié)功能，減少人工操作誤差，降低學(xué)生操作難度。

用材講究

為平衡成本與耐用性，ZEM15 的外殼采用高強度工程塑料，表面經(jīng)過耐磨處理，能承受教學(xué)環(huán)境中頻繁的觸碰與清潔。樣品室內(nèi)部采用不銹鋼材質(zhì)，具備一定的抗腐蝕能力，可應(yīng)對生物樣品固定液、金屬樣品清洗溶劑等常見化學(xué)試劑的輕微污染。電子光學(xué)系統(tǒng)的核心部件 —— 電子槍選用燈絲壽命較長的鎢燈絲，使用壽命可達 100 - 200 小時，降低教學(xué)過程中的耗材更換頻率與成本。鏡頭組件采用高純度玻璃與金屬鍍膜，減少電子散射，保障圖像清晰度；內(nèi)部電路采用模塊化設(shè)計，若某一部件故障，可單獨更換，降低維修難度與成本。

參數(shù)詳情

參數(shù)項	具體數(shù)值
分辨率	二次電子圖像：3.0nm（30kV），背散射電子圖像：5.0nm（30kV）
加速電壓	0.5 - 15kV，步長 0.1kV
放大倍數(shù)	20 - 100000 倍，連續(xù)可調(diào)
樣品室尺寸	最大樣品直徑 50mm，最大樣品高度 30mm
樣品臺移動	X/Y 軸手動微調(diào)，行程 10mm×10mm
電子槍類型	鎢燈絲電子槍
探測器	內(nèi)置二次電子探測器、背散射電子探測器
圖像輸出	1200×900 像素，支持 BMP、JPG 格式保存
數(shù)據(jù)接口	USB 3.0、HDMI
電源要求	220V±10%，50Hz，功率≤1000W
工作環(huán)境	溫度 18 - 25℃，相對濕度 30% - 60%（無冷凝）

廣泛用途

在高校材料科學(xué)基礎(chǔ)實驗課程中，ZEM15 可用于觀察金屬材料的金相組織、聚合物的表面形貌，幫助學(xué)生理解材料結(jié)構(gòu)與性能的關(guān)系；在生物學(xué)實驗中，能觀察動植物細胞的冷凍干燥樣品、微生物的形態(tài)特征，輔助講解細胞結(jié)構(gòu)與生命活動規(guī)律；在地質(zhì)學(xué)教學(xué)中，可分析巖石薄片、礦物顆粒的微觀結(jié)構(gòu)，讓學(xué)生直觀認識地質(zhì)樣品的組成與形成過程；此外，在職業(yè)教育的機電專業(yè)實訓(xùn)中，還能用于檢測機械零件的表面磨損、微小缺陷，幫助學(xué)生理解加工工藝對零件質(zhì)量的影響。

使用說明

使用前，需將 ZEM15 放置在水平、無明顯振動的工作臺上，遠離強磁場（如大型電機）與強電場（如高壓設(shè)備），避免陽光直射。打開設(shè)備電源，進行預(yù)熱，預(yù)熱時間建議不少于 30 分鐘，期間檢查真空系統(tǒng)是否正常（設(shè)備內(nèi)置小型真空機組，無需外接真空設(shè)備）。準備樣品時，需確保樣品干燥、清潔，導(dǎo)電性差的樣品（如塑料、陶瓷）需進行噴金處理（設(shè)備可搭配小型噴金儀使用）；將樣品固定在樣品臺上，通過側(cè)開式樣品室門放入設(shè)備，關(guān)閉樣品室后啟動抽真空程序，待真空度達到要求（真空指示燈常亮）后開始觀察。通過觸控屏選擇加速電壓、放大倍數(shù)，啟動圖像掃描，調(diào)節(jié)聚焦、亮度與對比度，直至圖像清晰；如需切換觀察區(qū)域，可暫停掃描，手動微調(diào)樣品臺位置后重新掃描。觀察完成后，保存圖像數(shù)據(jù)至 U 盤，關(guān)閉掃描程序，待樣品室放氣后取出樣品。實驗結(jié)束后，關(guān)閉設(shè)備電源，清潔樣品室內(nèi)部（可用無塵布擦拭樣品臺），定期（建議每學(xué)期）檢查電子槍燈絲狀態(tài)，若燈絲損耗嚴重，及時更換；每半年請專業(yè)人員對真空系統(tǒng)進行維護，確保設(shè)備長期穩(wěn)定運行。

澤攸 ZEM15：高校教學(xué)顯微觀察優(yōu)選