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ZEM15澤攸電鏡:科研微觀觀察入門之選

產(chǎn)品簡介

ZEM15澤攸電鏡:科研微觀觀察入門之選
在高?;A(chǔ)實(shí)驗(yàn)教學(xué)、中小學(xué)科技創(chuàng)新實(shí)驗(yàn)室及小型科研機(jī)構(gòu)的基礎(chǔ)研究中,對臺(tái)式掃描電子顯微鏡的需求更側(cè)重于操作便捷性、性價(jià)比與基礎(chǔ)觀察能力,ZEM15 憑借貼合入門場景的設(shè)計(jì)與穩(wěn)定的基礎(chǔ)性能,成為這類場景的優(yōu)選設(shè)備,幫助初學(xué)者輕松開啟微觀世界探索之旅。

產(chǎn)品型號(hào):
更新時(shí)間:2025-08-28
廠商性質(zhì):代理商
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ZEM15澤攸電鏡:科研微觀觀察入門之選

在高?;A(chǔ)實(shí)驗(yàn)教學(xué)、中小學(xué)科技創(chuàng)新實(shí)驗(yàn)室及小型科研機(jī)構(gòu)的基礎(chǔ)研究中,對臺(tái)式掃描電子顯微鏡的需求更側(cè)重于操作便捷性、性價(jià)比與基礎(chǔ)觀察能力,ZEM15 憑借貼合入門場景的設(shè)計(jì)與穩(wěn)定的基礎(chǔ)性能,成為這類場景的優(yōu)選設(shè)備,幫助初學(xué)者輕松開啟微觀世界探索之旅。
一、產(chǎn)品細(xì)節(jié):簡化操作,適配教學(xué)場景
ZEM15 在結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)上充分考慮教學(xué)使用需求,機(jī)身采用模塊化組裝方式,拆開包裝后只需連接電源與電腦,無需專業(yè)安裝團(tuán)隊(duì)即可完成部署,大幅降低了教學(xué)實(shí)驗(yàn)室的設(shè)備 setup 難度。機(jī)身側(cè)面設(shè)有清晰的操作指引貼紙,標(biāo)注了電源開關(guān)、樣品室門開關(guān)、緊急停止按鈕等關(guān)鍵操作部件的位置與使用方法,初學(xué)者可快速熟悉設(shè)備基本操作。
樣品室門采用透明有機(jī)玻璃材質(zhì),搭配金屬邊框,既保證了安全性,又方便學(xué)生在操作過程中觀察樣品臺(tái)位置,避免因誤操作導(dǎo)致樣品或設(shè)備損壞。樣品室內(nèi)部配備簡易樣品固定裝置,包含通用樣品臺(tái)與多種規(guī)格的夾具(如圓形樣品夾具、片狀樣品夾具),無需額外定制工裝,即可固定金屬片、塑料顆粒、生物切片等常見教學(xué)樣品,適配多樣化的實(shí)驗(yàn)需求。
操作面板除觸控屏外,還保留了實(shí)體快捷鍵,如 “緊急停止"“真空啟動(dòng)"“掃描暫停" 等關(guān)鍵功能均設(shè)有獨(dú)立實(shí)體按鈕,即使在觸控屏故障的情況下,也能保障設(shè)備基本操作與安全控制,適合教學(xué)場景中多人輪流操作的需求。設(shè)備還配備了可拆卸的防塵罩,閑置時(shí)覆蓋機(jī)身,能有效防止灰塵進(jìn)入設(shè)備內(nèi)部,減少維護(hù)頻率,降低教學(xué)實(shí)驗(yàn)室的設(shè)備管理成本。
二、產(chǎn)品性能:基礎(chǔ)功能滿足教學(xué)觀察需求
ZEM15 的鎢燈絲電子槍雖為基礎(chǔ)配置,但經(jīng)過優(yōu)化設(shè)計(jì),使用壽命延長至 1000 小時(shí)以上,能滿足一個(gè)學(xué)期的教學(xué)實(shí)驗(yàn)需求,減少頻繁更換燈絲的麻煩。加速電壓 0.5kV~15kV 的調(diào)節(jié)范圍,可覆蓋教學(xué)中常見樣品的觀察需求:例如觀察金屬樣品表面形貌時(shí),選用 10kV~15kV 電壓,能清晰呈現(xiàn)晶粒與晶界;觀察塑料樣品時(shí),選用 0.5kV~5kV 低電壓,可避免樣品充電,呈現(xiàn)表面紋理。
分辨率方面,3.0nm(30kV)與 8.0nm(1kV)的性能表現(xiàn),足以滿足基礎(chǔ)教學(xué)對微觀觀察的精度要求。在材料學(xué)基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)中,學(xué)生可通過 ZEM15 觀察鋁合金的鑄造組織,分辨不同尺寸的晶粒;在生物學(xué)實(shí)驗(yàn)中,觀察經(jīng)過噴金處理的花粉顆粒,能清晰看到花粉表面的紋路與凸起;在電子學(xué)基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)中,觀察廢舊電路板的銅箔布線,可直觀了解電路微觀結(jié)構(gòu)。
掃描模式簡化為慢、中、快三檔,教學(xué)中可根據(jù)實(shí)驗(yàn)?zāi)繕?biāo)選擇:慢掃模式用于獲取清晰圖像,適合實(shí)驗(yàn)報(bào)告中的圖像采集;中掃模式用于樣品快速定位,幫助學(xué)生掌握樣品臺(tái)調(diào)節(jié)方法;快掃模式則可用于課堂演示,快速展示不同樣品的微觀形貌,提升教學(xué)效率。設(shè)備的圖像刷新率優(yōu)化至 15 幀 / 秒,在中掃模式下,屏幕顯示的圖像流暢無卡頓,便于學(xué)生實(shí)時(shí)觀察操作對成像的影響。
三、用材與參數(shù):基礎(chǔ)配置保障教學(xué)穩(wěn)定性
ZEM15 的核心部件用材在保證基礎(chǔ)性能的同時(shí),兼顧了成本與耐用性。電子透鏡采用普通純鐵材質(zhì),經(jīng)過標(biāo)準(zhǔn)化加工工藝處理,雖在聚焦精度上不及型號(hào),但能滿足基礎(chǔ)觀察的電子束聚焦需求,且制造成本更低,適合教學(xué)設(shè)備的批量采購。樣品臺(tái)導(dǎo)軌采用 45 號(hào)鋼材質(zhì),表面經(jīng)過調(diào)質(zhì)處理,硬度達(dá) HB220~250,能承受教學(xué)場景中頻繁的手動(dòng)調(diào)節(jié),長期使用后仍能保持基本的移動(dòng)精度。
真空系統(tǒng)標(biāo)配機(jī)械泵,可選配分子泵,教學(xué)場景中使用機(jī)械泵即可滿足基礎(chǔ)真空需求(真空度 10?3Pa),抽真空時(shí)間約 10~15 分鐘,雖慢于型號(hào),但能讓學(xué)生在實(shí)驗(yàn)過程中觀察真空度變化,理解真空環(huán)境對電子顯微鏡成像的重要性。設(shè)備電源模塊采用寬電壓設(shè)計(jì),能適應(yīng) 180V~240V 的電壓波動(dòng),避免因?qū)嶒?yàn)室電壓不穩(wěn)定導(dǎo)致設(shè)備故障,保障教學(xué)實(shí)驗(yàn)的順利進(jìn)行。
以下為 ZEM15 適配教學(xué)場景的核心參數(shù)表:
參數(shù)類別
教學(xué)場景適配參數(shù)
加速電壓
0.5kV~15kV(分檔調(diào)節(jié),帶數(shù)值顯示)
分辨率
3.0nm(30kV,二次電子);8.0nm(1kV,二次電子)
放大倍率
20x~100,000x(帶倍率鎖定功能)
樣品室尺寸
直徑 120mm,高度 80mm(帶透明觀察窗)
樣品臺(tái)移動(dòng)范圍
X 軸 ±25mm,Y 軸 ±25mm,Z 軸 50mm(手動(dòng)調(diào)節(jié),帶刻度)
探測器類型
二次電子探測器(標(biāo)配);背散射電子探測器(可選)
真空系統(tǒng)
機(jī)械泵(標(biāo)配);分子泵(可選)
電源要求
AC 180V~240V,50/60Hz,1.5kW
操作模式
手動(dòng)操作(基礎(chǔ));電腦輔助操作(可選)
教學(xué)功能
操作步驟指引、參數(shù)調(diào)節(jié)演示模式
四、用途與使用說明:貼合教學(xué)實(shí)驗(yàn)流程
ZEM15 在教學(xué)場景中的用途廣泛,在高校材料科學(xué)與工程專業(yè)的基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)中,可用于 “金屬材料微觀結(jié)構(gòu)觀察" 實(shí)驗(yàn),讓學(xué)生通過對比不同熱處理狀態(tài)下金屬的微觀形貌,理解熱處理對材料性能的影響;在生物學(xué)專業(yè)的基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)中,開展 “生物樣品掃描電鏡觀察" 實(shí)驗(yàn),指導(dǎo)學(xué)生完成樣品脫水、噴金等預(yù)處理步驟,掌握掃描電鏡樣品制備方法;在中小學(xué)科技創(chuàng)新課程中,可用于 “微觀世界探索" 項(xiàng)目,讓學(xué)生觀察身邊常見物品(如頭發(fā)、紙張、昆蟲翅膀)的微觀結(jié)構(gòu),激發(fā)科學(xué)探索興趣。
針對教學(xué)場景的使用說明優(yōu)化如下:首先,實(shí)驗(yàn)前需進(jìn)行設(shè)備狀態(tài)檢查,指導(dǎo)學(xué)生查看燈絲壽命提示、真空系統(tǒng)壓力顯示,確認(rèn)設(shè)備正常;然后進(jìn)行樣品制備教學(xué),以金屬樣品為例,演示樣品切割、打磨、拋光、清洗的步驟,若為非金屬樣品,需演示噴金處理過程(可搭配小型臺(tái)式噴金儀);接著講解設(shè)備操作流程,先打開機(jī)械泵電源,等待真空度降至 10?3Pa 以下,再打開電子槍電源,設(shè)置加速電壓(教學(xué)中推薦使用 10kV)與放大倍率(從低倍率 20x 開始),通過手動(dòng)調(diào)節(jié)樣品臺(tái),將樣品移至視野中心,旋轉(zhuǎn)調(diào)焦手輪至圖像清晰;最后指導(dǎo)學(xué)生進(jìn)行圖像采集與保存,通過 USB 接口將圖像導(dǎo)出至電腦,用于實(shí)驗(yàn)報(bào)告撰寫。
教學(xué)使用中需特別注意安全規(guī)范,例如禁止在樣品室未關(guān)閉時(shí)啟動(dòng)電子槍,防止電子束泄漏;禁止用手直接觸摸樣品臺(tái)與探測器,避免污染;實(shí)驗(yàn)結(jié)束后需先關(guān)閉電子槍,再關(guān)閉真空系統(tǒng),待樣品室放氣至常壓后取出樣品。設(shè)備還內(nèi)置 “教學(xué)模式",開啟后屏幕會(huì)顯示操作步驟提示,幫助學(xué)生逐步掌握操作方法,減少教師指導(dǎo)壓力。
五、型號(hào)特點(diǎn):高性價(jià)比的入門選擇
作為 ZEM 系列的入門型號(hào),ZEM15 的核心優(yōu)勢在于高性價(jià)比與教學(xué)適配性。其價(jià)格遠(yuǎn)低于 ZEM18 與 ZEM20,適合高校實(shí)驗(yàn)室批量采購,滿足多個(gè)實(shí)驗(yàn)小組同時(shí)開展實(shí)驗(yàn)的需求;操作流程簡化,無需專業(yè)操作人員,學(xué)生經(jīng)過 1~2 課時(shí)的培訓(xùn)即可獨(dú)立完成實(shí)驗(yàn),降低了教學(xué)成本;基礎(chǔ)性能穩(wěn)定,故障率低,減少了教學(xué)過程中因設(shè)備故障導(dǎo)致的實(shí)驗(yàn)中斷。
同時(shí),ZEM15 支持功能擴(kuò)展,隨著教學(xué)需求升級,可后續(xù)加裝背散射電子探測器、小型 EDS 模塊,逐步提升設(shè)備功能,滿足從基礎(chǔ)教學(xué)到進(jìn)階實(shí)驗(yàn)的過渡需求。無論是培養(yǎng)學(xué)生的微觀觀察能力,還是開展基礎(chǔ)科研項(xiàng)目,ZEM15 都能以實(shí)用的性能與親民的成本,成為教學(xué)科研領(lǐng)域微觀觀察的入門優(yōu)選設(shè)備。
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