產品概述

奧林巴斯STM7測量顯微鏡是專為工業(yè)檢測與質量控制設計的多功能光學測量設備。其核心優(yōu)勢在于將高分辨率成像與三軸精密測量功能深度整合，可滿足從電子元件到精密機械零件的多樣化檢測需求。該系列包含STM7-SF、STM7-MF、STM7-LF等型號，支持手動與電動調焦兩種模式，載物臺尺寸覆蓋50mm×50mm至300mm×300mm，適配不同規(guī)模樣品的檢測場景。

核心性能與用材

1. 光學系統(tǒng)
   STM7采用UIS2無限遠校正光學系統(tǒng)，通過消除像差實現(xiàn)高對比度成像。明場、暗場、微分干涉、偏光四種觀察模式可自由切換，例如在檢測金屬表面劃痕時，微分干涉模式可清晰呈現(xiàn)0.1μm級的微小缺陷。

2. 機械結構
   鏡架基座采用花崗巖材質，其熱膨脹系數僅為鋼材的1/50，可有效抵御環(huán)境溫度波動對測量精度的影響。實測數據顯示，在20℃±1℃恒溫環(huán)境下，Z軸重復測量誤差，滿足半導體晶圓厚度檢測的嚴苛要求。

3. 測量系統(tǒng)
   標配0.1μm分辨率的線性標尺，支持XY平面與Z軸同步測量。以STM7-LF型號為例，其300mm×300mm載物臺可實現(xiàn)大型印刷電路板的整體測量，避免傳統(tǒng)設備需多次定位拼接導致的誤差累積。

型號參數對比

使用說明

1. 樣品準備
   清潔載物臺表面，使用真空吸附臺固定薄型樣品（如晶圓），厚型樣品（如金屬塊）可直接放置并調整水平。

2. 調焦操作
   通過離合器系統(tǒng)快速切換粗調（10mm/轉）與微調（0.01mm/轉）模式。在檢測0.5mm高度的微機電系統(tǒng)（MEMS）器件時，建議先使用5×物鏡粗定位，再切換至100×物鏡進行微調。

3. 數據采集
   連接OLS50-S-MSP電動載物臺套件，可實現(xiàn)多區(qū)域自動拼接測量。例如在檢測12英寸晶圓表面顆粒時，軟件可規(guī)劃20×20mm的測量網格，單次采集覆蓋全片數據。

應用案例

某汽車零部件廠商使用奧林巴斯STM7測量顯微鏡STM7-MF檢測發(fā)動機噴油嘴孔徑，通過暗場模式清晰識別0.02mm的毛刺缺陷，測量效率較傳統(tǒng)投影儀提升3倍，年節(jié)約質檢成本超50萬元。