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當(dāng)前位置：首頁(yè)產(chǎn)品中心臺(tái)式電鏡&臺(tái)階儀&原位分析澤攸ZEM15澤攸臺(tái)式電鏡如何實(shí)現(xiàn)高分辨與低損傷平衡?

澤攸臺(tái)式電鏡如何實(shí)現(xiàn)高分辨與低損傷平衡?

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澤攸臺(tái)式電鏡如何實(shí)現(xiàn)高分辨與低損傷平衡?掃描電子顯微鏡的成像質(zhì)量與樣品損傷是一對(duì)永恒矛盾：高加速電壓（如30kV）可提升分辨率，但易導(dǎo)致不導(dǎo)電樣品荷電、有機(jī)樣品灼燒；低加速電壓（如5kV）減少損傷，卻可能因電子束穿透力不足導(dǎo)致圖像模糊。澤攸ZEM15通過(guò)“多模式電子光學(xué)系統(tǒng)"設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)了高分辨與低損傷的動(dòng)態(tài)平衡。

產(chǎn)品型號(hào)：ZEM15
更新時(shí)間：2025-10-28
廠商性質(zhì)：代理商
訪(fǎng)問(wèn)量：26
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澤攸臺(tái)式電鏡如何實(shí)現(xiàn)高分辨與低損傷平衡

掃描電子顯微鏡的成像質(zhì)量與樣品損傷是一對(duì)永恒矛盾：高加速電壓（如30kV）可提升分辨率，但易導(dǎo)致不導(dǎo)電樣品荷電、有機(jī)樣品灼燒；低加速電壓（如5kV）減少損傷，卻可能因電子束穿透力不足導(dǎo)致圖像模糊。澤攸ZEM15通過(guò)“多模式電子光學(xué)系統(tǒng)"設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)了高分辨與低損傷的動(dòng)態(tài)平衡。
ZEM15的電子槍采用熱場(chǎng)發(fā)射源，束流穩(wěn)定性≤1%/h（傳統(tǒng)鎢燈絲槍≥5%/h），配合電磁透鏡組的高精度聚焦，即使在5kV低電壓下，仍能保持2nm的分辨率（優(yōu)于多數(shù)臺(tái)式電鏡的5nm指標(biāo)）。這一特性對(duì)生物樣品至關(guān)重要——某醫(yī)學(xué)院用其觀察神經(jīng)元突觸結(jié)構(gòu)，5kV電壓下未觀察到明顯的樣品損傷（傳統(tǒng)電鏡需10kV以上，導(dǎo)致突觸小泡破裂），成功捕捉到突觸后膜受體蛋白的分布細(xì)節(jié)。
設(shè)備搭載“自適應(yīng)束流調(diào)節(jié)"功能，可根據(jù)樣品導(dǎo)電性自動(dòng)調(diào)整束流密度。觀察高導(dǎo)電金屬樣品時(shí)，束流提升至1nA，增強(qiáng)二次電子信號(hào)強(qiáng)度，提升圖像信噪比；觀察低導(dǎo)電聚合物時(shí)，束流降至0.1nA，減少電荷積累。某高分子材料實(shí)驗(yàn)室測(cè)試顯示，用ZEM15觀察PMMA（聚甲基丙烯酸甲酯）薄膜，5kV電壓下連續(xù)成像2小時(shí)，未出現(xiàn)荷電導(dǎo)致的圖像漂移，而傳統(tǒng)電鏡在相同條件下15分鐘即出現(xiàn)明顯模糊。
此外，ZEM15配備二次電子探測(cè)器（SE）和背散射電子探測(cè)器（BSE）雙檢測(cè)系統(tǒng)。SE探測(cè)器對(duì)表面形貌敏感，適合觀察納米顆粒的分散狀態(tài)；BSE探測(cè)器對(duì)成分差異敏感，可區(qū)分合金中的第二相顆粒。某金屬材料研究所用其分析鋁合金中的Mg?Si析出相，通過(guò)BSE圖像的襯度差異，快速定位析出相分布，結(jié)合EDS能譜（可選配），完成成分-形貌-分布的關(guān)聯(lián)分析。
ZEM15的低電壓成像技術(shù)突破了傳統(tǒng)臺(tái)式電鏡的性能邊界，使其在高分辨觀察與樣品保護(hù)之間找到了優(yōu)解，尤其適用于生物、高分子、有機(jī)材料等敏感樣品的研究。澤攸臺(tái)式電鏡如何實(shí)現(xiàn)高分辨與低損傷平衡

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