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高分辨成像：ZEM系列臺式電鏡介紹 對于尋求高分辨成像能力的用戶，澤攸電鏡的ZEM系列臺式掃描電鏡將高性能融入小巧的機身中。該產品減少了用戶對大型設備空間的依賴。

澤攸透射電鏡：探索微觀世界 澤攸電射推出的PicoScan系列掃描電鏡（SEM），為材料科學、生物醫(yī)學和納米技術研究提供了一種觀察工具。該系列電鏡設計緊湊，適合實驗室環(huán)境。

澤攸原位電鏡MEMS系統(tǒng)技術解析方案澤攸透射電鏡原位MEMS系統(tǒng)是一套專為透射電子顯微鏡設計的微機電實驗平臺，旨在實現對材料在多種外場激勵下的實時動態(tài)觀測。該系統(tǒng)通過精密的微納加工技術，為材料科學研究提供了原位實驗的解決方案。

澤攸原位MEMS：動態(tài)電鏡觀測新方案在材料科學、納米技術和生命科學等領域，透射電子顯微鏡（TEM）是觀察材料微觀結構的重要工具。而原位實驗技術的進步，使得研究人員能夠在原子尺度下實時觀察材料在外界刺激（如加熱、拉伸、電場等）下的動態(tài)變化。澤攸科技推出的透射電鏡原位MEMS（微機電系統(tǒng)）技術，為這一研究方向提供了新的實驗手段。

澤攸ZP3-4微納探針臺是一款適用于微納器件電學性能測試的精密儀器，主要服務于半導體器件、納米材料和微電子機械系統(tǒng)（MEMS）等領域的研究與測試需求。該系統(tǒng)采用模塊化設計理念，可滿足不同規(guī)格樣品的測試要求。澤攸ZP3-4微納探針臺精密電學測量平臺

澤攸科技ZEM15C是一款緊湊型臺式掃描電子顯微鏡，專為材料科學、生命科學、工業(yè)檢測等領域設計。該設備在保持傳統(tǒng)電鏡高分辨率優(yōu)勢的同時，通過優(yōu)化設計實現了操作簡便性和空間效率的平衡。澤攸科技ZEM15C臺式掃描電鏡技術解析與應用