澤攸臺階儀：微觀形貌的忠實記錄者

產(chǎn)品簡介

澤攸臺階儀：微觀形貌的忠實記錄者
澤攸臺階儀以穩(wěn)定的測量表現(xiàn)，成為材料表面分析的實用工具。其核心測量系統(tǒng)采用高精度光柵尺，配合精密驅(qū)動機構(gòu)，為位移測量提供可靠基礎。

產(chǎn)品型號：

更新時間：2025-08-25

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

臺式電鏡&臺階儀&原位分析

澤攸澤攸臺式掃描電鏡澤攸臺階儀澤攸探針臺及低溫系統(tǒng) 澤攸TEM原位方案(樣品桿) 澤攸SEM原位解決方案

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澤攸臺階儀以穩(wěn)定的測量表現(xiàn)，成為材料表面分析的實用工具。其核心測量系統(tǒng)采用高精度光柵尺，配合精密驅(qū)動機構(gòu)，為位移測量提供可靠基礎。澤攸臺階儀：微觀形貌的忠實記錄者

該型號測量范圍為 0 - 100μm，垂直分辨率達 0.1nm，能捕捉微小的臺階高度差異。掃描長度可在 10μm - 10mm 之間調(diào)節(jié)，滿足不同尺寸樣品的測量需求。傳感器采用金剛石觸針，針尖半徑 5μm，測力范圍 2 - 20mg，減少對軟質(zhì)樣品表面的損傷。

設備機身選用鑄鐵材質(zhì)，經(jīng)時效處理消除內(nèi)應力，有效降低外界振動對測量的影響。操作面板設計簡潔，通過旋鈕與按鍵可快速設置測量參數(shù)，配套軟件支持數(shù)據(jù)的實時顯示與后期分析，能生成臺階高度、粗糙度等參數(shù)報告。

使用時，將樣品固定在工作臺上，調(diào)整觸針位置使其輕觸樣品表面，設置掃描速度（0.1 - 1mm/s）和掃描長度后啟動測量。適用于薄膜厚度檢測、涂層臺階分析等場景，如半導體晶圓的鍍膜厚度測量，為生產(chǎn)質(zhì)量控制提供數(shù)據(jù)支持。澤攸臺階儀：微觀形貌的忠實記錄者

澤攸臺階儀在設計上注重擴大測量范圍的同時保持測量精度，其驅(qū)動系統(tǒng)采用伺服電機，運行平穩(wěn)，掃描過程中觸針測力波動小。

測量范圍擴展至 0 - 200μm，垂直分辨率 0.05nm，水平分辨率 10nm，能應對更深的臺階與更細微的表面特征。掃描長度最大可達 50mm，適合較大尺寸樣品的整體測量，如 PCB 板的線路臺階檢測。

上一個：澤攸科研的電鏡解決方案