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三維光學(xué)輪廓儀
Sensofar
Sensofar S?neox共聚焦白光干涉儀概覽
產(chǎn)品簡介
Sensofar S?neox共聚焦白光干涉儀概覽Sensofar?S?neox 是一款集共聚焦、白光干涉和多焦面疊加三種測量模式于一體的三維光學(xué)輪廓儀,適用于實驗室研發(fā)和工業(yè)生產(chǎn)線的表面形貌檢測。
Sensofar S?neox共聚焦白光干涉儀概覽

共聚焦模式:利用高 NA 物鏡實現(xiàn) 0.10?µm 橫向分辨率,支持最高 86° 的傾斜角測量,適合金屬模具、陶瓷基板等陡坡表面的三維重建。
白光干涉模式:通過波長掃描與相干門控實現(xiàn)亞納米級縱向分辨率(0.1?nm),可對光學(xué)鏡片、薄膜等超光滑表面進(jìn)行無接觸測量,且具備抗振動技術(shù)提升測量可靠性。
多焦面疊加(MFI)模式:在單次掃描中疊加多個焦平面,最大測量深度可達(dá) 8?mm,掃描速度保持在 3?mm/s,滿足大粗糙度或厚膜樣品的快速測量需求。
系統(tǒng)通過自適應(yīng)光學(xué)引擎自動調(diào)節(jié)光源波長、入射角度和算法參數(shù),實現(xiàn)模式間的智能切換,降低操作復(fù)雜度。
公司地址:北京市房山區(qū)長陽鎮(zhèn)
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