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三維光學(xué)輪廓儀
Sensofar
S lynx2微觀世界Sensofar S lynx 三維測量新選擇
微觀世界Sensofar S lynx 三維測量新選擇在材料科學(xué)、精密制造和學(xué)術(shù)研究領(lǐng)域,對表面三維形貌的觀測是一項基礎(chǔ)而重要的工作。Sensofar推出的S lynx系列三維共聚焦白光干涉輪廓儀,為有此類需求的用戶提供了一個值得考慮的選擇。它旨在將光學(xué)測量的能力帶入日常的實驗室與工業(yè)環(huán)境。
微觀世界Sensofar S lynx 三維測量新選擇
在材料科學(xué)、精密制造和學(xué)術(shù)研究領(lǐng)域,對表面三維形貌的觀測是一項基礎(chǔ)而重要的工作。Sensofar推出的S lynx系列三維共聚焦白光干涉輪廓儀,為有此類需求的用戶提供了一個值得考慮的選擇。它旨在將光學(xué)測量的能力帶入日常的實驗室與工業(yè)環(huán)境。
設(shè)計與用材:緊湊而實用的結(jié)構(gòu)
S lynx的設(shè)計考慮了用戶的空間布局與使用習(xí)慣。儀器采用一體式結(jié)構(gòu),整體尺寸較為緊湊,能夠適應(yīng)多種實驗臺環(huán)境。關(guān)鍵光學(xué)部件使用了常見的玻璃材質(zhì)與金屬外殼,在保護內(nèi)部核心元件的同時,也兼顧了儀器的耐用性。樣品臺部分提供了可調(diào)節(jié)的載物空間,能夠容納不同尺寸的樣品。
性能與用途:滿足多種測量場景
S lynx結(jié)合了共聚焦和白光干涉兩種測量技術(shù)。共聚焦技術(shù)有助于獲取具有一定傾斜角度或復(fù)雜結(jié)構(gòu)的表面形貌;白光干涉技術(shù)則適用于測量階梯高度和表面平整度。這種技術(shù)的組合,讓S lynx能夠應(yīng)對多種材料的測量任務(wù)。
它的主要應(yīng)用方向包括:
表面粗糙度分析:對加工件表面進行量化評價。
膜厚測量:測量透明或半透明薄膜的厚度。
微結(jié)構(gòu)三維形貌:獲取微米級結(jié)構(gòu)的立體形貌數(shù)據(jù)。
缺陷檢測:觀察產(chǎn)品表面的劃痕、凹坑等微小缺陷。
使用說明與操作流程
儀器的操作流程較為清晰。用戶將樣品放置在載物臺上,通過配套的計算機軟件控制平臺移動,進行對焦。軟件界面提供了參數(shù)設(shè)置選項,用戶可根據(jù)樣品的反光特性和形貌特點,選擇共聚焦或干涉測量模式。采集數(shù)據(jù)后,軟件內(nèi)置的分析工具可進行二維、三維圖像構(gòu)建、參數(shù)計算和生成報告。對于初次接觸的用戶,經(jīng)過適當(dāng)?shù)呐嘤?xùn)可以掌握基本操作。
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