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三維光學(xué)輪廓儀
Sensofar
Sensofar輪廓儀電子、光學(xué)、科研檢測(cè)助手 電子行業(yè)中,芯片鍵合線、微型電容、柔性電路板等元件的精密檢測(cè),直接關(guān)系到產(chǎn)品性能,Sensofar S lynx2 的細(xì)微檢測(cè)能力,能適配這類小尺寸元件的質(zhì)量把控需求。
Sensofar共聚焦白光干涉儀操作省心協(xié)作順暢 對(duì)很多用戶來(lái)說(shuō),精密輪廓儀的操作門(mén)檻是一大顧慮,但 Sensofar S lynx2 在設(shè)計(jì)時(shí)就注重 “簡(jiǎn)化操作”,從開(kāi)機(jī)到出報(bào)告,核心步驟清晰易懂,即使是初次接觸的新手,也能快速掌握。
Sensofar共聚焦白光干涉難測(cè)樣品輕松應(yīng)對(duì) 在檢測(cè)玻璃鏡片、透明薄膜、光學(xué)樹(shù)脂等透明樣品時(shí),傳統(tǒng)輪廓儀常因表面反光導(dǎo)致數(shù)據(jù)失真,而 Sensofar S lynx2 通過(guò)專屬光學(xué)設(shè)計(jì)與算法優(yōu)化,能有效削弱反光干擾,同時(shí)捕捉樣品表面與內(nèi)部的細(xì)微特征。
Sensofar共聚焦白光干涉捕捉細(xì)微結(jié)構(gòu)輪廓儀 在檢測(cè)微小樣品(如芯片引腳、微型齒輪、光學(xué)薄膜)時(shí),傳統(tǒng)輪廓儀常因分辨率不足,難以清晰呈現(xiàn)微米級(jí)甚至納米級(jí)的表面結(jié)構(gòu),而 Sensofar S lynx2 依托三維共聚焦白光干涉技術(shù),能精準(zhǔn)捕捉這類細(xì)微特征,為精密檢測(cè)提供支持。
Sensofar S wide選的對(duì)用的久的測(cè)量設(shè)備 對(duì)用戶而言,測(cè)量設(shè)備的 “長(zhǎng)期性價(jià)比” 不僅看初期投入,更取決于耐用性與后續(xù)維護(hù)成本,Sensofar S wide 在這兩方面均有貼心設(shè)計(jì),減少長(zhǎng)期使用的顧慮。
Sensofar S wide復(fù)雜環(huán)境也能穩(wěn)用的測(cè)量?jī)x 實(shí)驗(yàn)室與生產(chǎn)車間的環(huán)境差異較大,有的干燥多塵,有的潮濕悶熱,而 Sensofar S wide 在設(shè)計(jì)時(shí)就考慮了多環(huán)境適配性,能在不同條件下保持穩(wěn)定檢測(cè)性能,不用額外搭建專用檢測(cè)空間。
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