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澤攸 ZEM15：小型科研團隊顯微分析工具 對于經(jīng)費有限、空間緊張的小型科研團隊或初創(chuàng)企業(yè)，澤攸臺式掃描電子顯微鏡 ZEM15 以其高性價比與易維護性，成為微觀分析工作的實用工具，助力完成基礎科研與產(chǎn)品研發(fā)中的顯微觀察任務。

澤攸 ZEM15：高校教學顯微觀察優(yōu)選 在高?；A教學與入門級科研實驗中，一款操作便捷、性能可靠的臺式掃描電子顯微鏡（SEM）能為學生與科研人員提供直觀的微觀觀察體驗。澤攸臺式掃描電子顯微鏡 ZEM15，憑借貼合教學場景的設計與實用性能，成為眾多高校實驗室的常用設備。

澤攸臺階儀：科研到產(chǎn)線全鏈路形貌測量專家 在微納制造領域，表面形貌的量化分析是工藝優(yōu)化與質(zhì)量控制的關鍵環(huán)節(jié)。澤攸科技JS系列臺階儀通過自主創(chuàng)新的傳感器技術與智能化軟件系統(tǒng)，為半導體、新能源、生物醫(yī)療等行業(yè)提供高適應性的形貌測量解決方案，覆蓋從基礎研究到規(guī)?；a(chǎn)的全鏈路需求。

澤攸臺階儀：納米級形貌測量的創(chuàng)新之選 在半導體制造、新材料研發(fā)與生物醫(yī)療領域，微觀表面形貌的精準量化是推動技術迭代的核心要素。澤攸科技憑借多年技術沉淀，推出JS系列臺階儀，以模塊化設計與自主創(chuàng)新技術，為科研與工業(yè)用戶提供高適應性的形貌測量解決方案。

澤攸電鏡如何匹配您的科研需求 面對ZEM系列四款型號，用戶如何根據(jù)自身需求選擇適合的設備？本文從分辨率、功能擴展與預算三個維度提供決策參考。