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Sensofar三維共聚焦輪廓儀工業(yè)級3D測量工具 Sensofar S lynx為經濟型三維共聚焦白光干涉輪廓儀,采用一體化設計,體積小巧且操作靈活。設備集成共聚焦、白光干涉與相位差干涉技術,支持快速切換測量模式,無需硬件插拔。
Sensofar三維共聚焦輪廓儀多技術表面測量 Sensofar S neox三維共聚焦白光干涉光學輪廓儀采用模塊化設計,集成共聚焦、白光干涉、相位差干涉及AI多焦面疊加四種測量模式。
Sensofar三維共聚焦輪廓儀多功能表面分析 Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學測量技術,適用于微納米級表面形貌分析,可滿足半導體、精密制造、材料科學等領域的高精度檢測需求。
Sensofar三維輪廓儀:共聚焦與干涉測量結合 Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學測量技術,適用于微納米級表面形貌分析,可滿足半導體、精密制造、材料科學等領域的高精度檢測需求。
Sensofar三維共聚焦白光干涉儀 Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學測量技術,適用于微納米級表面形貌分析,可滿足半導體、精密制造、材料科學等領域的高精度檢測需求。
Sensofar三維輪廓儀微觀世界多模態(tài)測量利器 Sensofar白光干涉儀采用非接觸式光學測量技術,適用于微納米級表面形貌分析,可滿足半導體、精密制造、材料科學等領域的高精度檢測需求。
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